Spectromètres à transformée de fourier FTIR compacts pour mesure d'absorption, diffusion sur la plage NIR et MIR
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Spectromètre FT-NIR pour la mesure et caractérisation sans contact de films minces et la mesure d'indice de réfraction des matériaux
Spectromètre FT-NIR pour la mesure et caractérisation sans contact de films minces et la mesure d'indice de réfraction des matériaux
L’utilisation du spectromètre FT-NIR haute résolution avec le logiciel Arcspectro Thin-Film permet de caractériser les épaisseurs de films et les indices de réfraction des matériaux de manière rapide et précise.
Les caractéristiques du spectromètre FT-NIR, permettent à son utilisateur, de mesurer des couches allant de 2µm à 800µm d’épaisseurs sans avoir besoin de préparer les échantillons ou de suivre une procédure de mesure complexe. L’utilisation du FT-NIR permet également d’obtenir des performances supérieures en termes de résolution et de SNR. Le logiciel Arcspectro Thin-Film a été développé spécialement pour cette application et permet de faire des mesures sur des échantillons simple couche ou multicouches.
Ce système est de plus très modulaire et peut être utilisé comme un spectromètre NIR fibré standard de haute performance et répondre à différentes autres applications. La gamme se décline suivant différents modèles qui vous permettront d’adapter le système à la plage spectrale de votre choix en utilisant un spectromètre NIR, MIR ou une combinaison VIS-NIR avec des accessoires adaptés (sondes, éclairages, fibres…).
Pour toutes questions ou demandes supplémentaires concernant nos spectromètre FT-IR, n'hésitez pas à nous solliciter via le formulaire ci-dessous, ou à nous contacter via sales@ardop.com
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